Czas trwania: 8:30 - 15:30
Miejsce: ul. Herbowa 11, 62-070 Dąbrówka
Cena: 900 zł/os (netto)
Plan szkolenia:
Cele oceny i analizy systemów pomiarowych:
- Zrozumienie kluczowych celów oceny systemów pomiarowych
- Identyfikacja podstawowych zagadnień w systemach pomiarowych, takich jak bias, liniowość, stabilność, powtarzalność, odtwarzalność, dokładność
Metody analizy systemów pomiarowych dla cech mierzalnych:
- MSA typ1 - Ocena zdolności urządzenia pomiarowego
- MSA typ2 - GR&R - Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego
- MSA typ3 - Ocena systemu pomiarowego dla pomiarów automatycznych
Metody analizy systemów pomiarowych dla cech niemierzalnych (atrybutowych):
- Praktyczne zastosowanie analizy systemów pomiarowych w przypadku cech niemierzalnych
Wprowadzenie do statystycznego sterowania procesem:
- Podstawy statystycznego sterowania procesem
- Omówienie definicji statystycznych
Zastosowanie kart kontrolnych:
- Praktyczne zastosowanie kart kontrolnych w analizie danych SPC
Badanie zdolności maszyn i procesu (wskaźniki):
- Cm, Cmk, Cp, Cpk, Pp, Ppk - Interpretacja i ocena danych SPC
Cena szkolenia obejmuje:
- Udział w szkoleniu,
- Materiały szkoleniowe w formie papierowej,
- Certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
- Obiad, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek
Zgłoszenia: szkolenia@igel-cmm.com