SZKOLENIE: Analiza systemu pomiarowego (MSA) oraz statystyczne sterowanie procesem (SPC)
SZKOLENIE: Analiza systemu pomiarowego (MSA) oraz statystyczne sterowanie procesem (SPC)
SZKOLENIE: Analiza systemu pomiarowego (MSA) oraz statystyczne sterowanie procesem (SPC)

Proponowany ogólny program szkolenia :
 
SPC -  Statystyczne sterowanie procesem
 
- SPC a współczesne systemy zarządzania jakością – rola i znaczenie
- Pojęcia procesu stabilnego i rozregulowanego
- Zdolność procesu:
  • Badanie zdolności procesu i maszyn.
  • Wskaźniki Cm, Cmk, Cp, Cpk, Pp, Ppk
  • Wyznaczanie wskaźników i ich interpretacja.
  • Zdolność procesu a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji (ppm)
- Karty kontrolne:
  • Zasady funkcjonowania
  • Konstrukcja kart kontrolnych
- Typy kart kontrolnych (dla cech mierzalnych i atrybutywnych) .
  • Zastosowanie kart kontrolnych (karta X – średnie i R, karta X – średnie i S, karta mediany i rozstępu, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)).
- Dobór kart kontrolnych – metody próbkowania (wielkość i częstość) 
- Zasady obliczania współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych


MSA - Analiza Systemów Pomiarowych

- Wprowadzenie do MSA
  • znaczenie danych,
  • zmienne pomiarowe
  • skale pomiarowe
- Wpływ systemu pomiarowego na obserwowaną zmienność procesu - niedokładność pomiarów i zmienność w procesach 
- Przygotowanie systemu zbierania danych i planu pomiaru
- Błędy pomiaru - (liniowość, stabilność, powtarzalność, odtwarzalność)
  • liniowość
  • stabilność
  • powtarzalność
  • odtwarzalność
  • wyznaczanie innych wskaźników dla systemu pomiarowego
- Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego
  • Gage R&R dla cech mierzalnych
  • Gage R&R dla cech atrybutywnych
- Zdolność urządzenia pomiarowego - wskaźniki Cg i Cgk
- Sposoby doskonalenia systemu pomiarowego



Najbliższe szkolenie:

ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA) ORAZ STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC)

Termin szkolenia: 28.10.2020 
Czas trwania: 8:30- 15:30
Miejsce: ul, Herbowa 11, 62-070 Dąbrówka
Cena: 600 zł/os (netto)  PROMOCJA!

Program i ćwiczenia:

  1. Wprowadzenie do MSA
  2. Pomiary i przyczyny błędów pomiarowych
  3. Wymagania norm dotyczące analizy MSA
  4. Analiza zdolności dla wartości mierzalnych( Procedura 1,2,3)
  5. Analiza zdolności dla wartości niemierzalnych( metoda detekcji sygnałów, metoda kappa)
  6. Wprowadzenie do SPC
  7. Miary wykorzystywane w statystyce
  8. Kwalifikacja i analiza procesu (Cm, Cmk,Cp,Cpk,Pp,Ppk)

Cena szkoleń obejmuje:  
- udział w szkoleniu, 
- materiały szkoleniowe
- certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,  
- obiad, przerwy kawowe

Zgłoszenia można przesyłać na adres: 

office@igel-cmm.com

Zapraszamy do udziału także w innych szkoleniach!

https://www.igel-cmm.com/szkolenie-system-zarzadzania-jakoscia